В части I отмечалось, что «усталость» ксерографической пластины выражается в увеличении скорости темнового спада поверхностного потенциала при повторных циклах зарядки и экспонирования. «Усталость» определяется путем наблюдения периодического изменения кривых темнового спада после ряда циклов. Для этого снимаются кривые темнового спада после 10, 100, 1000 и т. д. циклов зарядки и экспонирования. Общепринятых методов этих измерений пока не существует. Методика зарядки, источники света, интенсивность света, частота циклов, применяемые при контроле «усталости», зависят главным образом от предполагаемого использования ксерографических пластин на практике. После целого ряда циклов величина «усталости» в конечном счете достигнет насыщения. Она может быть определена как увеличение скорости темнового спада в процентах после определенного числа циклов. Скорость темнового спада иногда вычисляется как средняя скорость спада, соответствующая падению потенциала 50 в, и выражается в в/мин.
